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Temperature dependence of the Raman-active phonon frequencies in indium sulfide

机译:硫化铟中拉曼活性声子频率的温度依赖性

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摘要

The temperature dependence of the Raman-active mode frequencies in indium sulfide was measured in the range from 10 to 300 K. The analysis of the temperature dependence of the A g intralayer optical modes show that Raman frequency shift results from the change of harmonic frequency with volume expansion and anharmonic coupling to phonons of other branches. The pure-temperature contribution (phonon-phonon coupling) is due to three- and four-phonon processes.
机译:在10至300 K范围内测量了硫化铟中拉曼活性模式频率的温度依赖性。对A g层内光学模式的温度依赖性分析表明,拉曼频移是由谐波频率的变化引起的。体积扩展和与其他分支的声子的非谐耦合。纯温度的贡献(声子-声子耦合)归因于三声子和四声子过程。

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